العربية 
 |
تكنولوجيا المعلومات والاتصالات-Q588A
I.C.T
On-line ICT Tester
| الكمية: | |
|---|---|
مجهزة بتقنية اختبار EC jet
تصميم CMOS + بطاقة تبديل الإعادة
تكنولوجيا اختبار النطاق العريض الحقيقية
واجهة Win7 المتوافقة مع البشر، عملية بسيطة وسهلة الاستخدام
عرض لوحة قوية
تقنية اختبار خمسة أسلاك، يمكن اختبار ما يصل إلى أربعة مكونات طرفية
تصحيح أخطاء برنامج الاختبار التلقائي ATPD
تحسين تقارير التحليل الإحصائي ومراقبة جودة الإنتاج بشكل فعال
| نموذج | تكنولوجيا المعلومات والاتصالات-Q588A |
| حجم ثنائي الفينيل متعدد الكلور | 500 مم × 350 مم (قياسي) |
| نقاط الاختبار | 256 نقطة قياسية (1024 نقطة اختيارية) |
| بطاقة التبديل | 128/وعاء |
| نقاط معزولة | 10 خطوات لكل اختبار، يمكن أن تتعلم العزلة تلقائيًا |
| سرعة الاختبار | 0.5 ثانية/1024 نقطة (مفتوح/قصير) 2 مللي ثانية ~ 40 مللي ثانية/خطوة (اختبار المكون) |
| نطاق الاختبار | المقاومة: 0.05 Ω~ 100M Ω (سلكان) ± 1% - 5% (أربعة أسلاك) ± 10m Ω.السعة 1pf ~ 40MF ± 2%-5%. الحث 1uH ~ 50H، ± 2٪ - 5٪. الثنائيات 0.1 ~ 9 فولت ± 1%-3%. صمام ثنائي زينر: 0.1 ~ 15 فولت ± 1%-3%. الترانزستور: قياس جهد تشبع VCE عند ثلاث أطراف بقيمة الترانزستور β. FET: اختبار طرفي ثلاثي لترانزستور التأثير الميداني VDS، CDs، RD (on). المقرنة الضوئية وقاطع الدائرة: أربع محطات لاختبار جهد التوصيل أو المقاومة. |
| ميزات اختيارية مميزة | المقاوم الصغير (نوع أربعة أسلاك): الحد الأدنى 50mΩ (أربعة أسلاك) ±10mΩ DRMode: يمكن قياس التسرب المتوازي للأمام أو الصمام الثنائي IC واللحام الفارغ الوظيفة الرئيسية: يتم تعليق البرنامج أثناء اختبار المفتاح، ويتم فحص جودة المفتاح من خلال التشغيل اليدوي. الختم التلقائي: اختبار تمرير أو فشل معدات الختم التلقائي وضع الشاشة: اتجاه وضع الشاشة (تمرير أو تحويلة فاشلة) الضغط المتعدد: نظام الضغط المتعدد أو المزدوج من خلال مراقبة المعدل: عندما يكون معدل الظهور وظيفة الرسومات: عرض اللوحة والإنتاج التلقائي لمشاهدات اللوحة وظيفة اللوحة المتعددة: التوسيع التلقائي للوحة واختيار اللوحة الفرعية والكشف التلقائي |
| مزود الطاقة | التيار المتردد: 220 فولت، 50/60 هرتز، 3 كيلو وات |
| البعد (مم) | 1000*750*1600 يمكن تخصيصها كما هو مطلوب |
| وزن | تقريبا: 350 كجم |
مجهزة بتقنية اختبار EC jet
تصميم CMOS + بطاقة تبديل الإعادة
تكنولوجيا اختبار النطاق العريض الحقيقية
واجهة Win7 المتوافقة مع البشر، عملية بسيطة وسهلة الاستخدام
عرض لوحة قوية
تقنية اختبار خمسة أسلاك، يمكن اختبار ما يصل إلى أربعة مكونات طرفية
تصحيح أخطاء برنامج الاختبار التلقائي ATPD
تحسين تقارير التحليل الإحصائي ومراقبة جودة الإنتاج بشكل فعال
| نموذج | تكنولوجيا المعلومات والاتصالات-Q588A |
| حجم ثنائي الفينيل متعدد الكلور | 500 مم × 350 مم (قياسي) |
| نقاط الاختبار | 256 نقطة قياسية (1024 نقطة اختيارية) |
| بطاقة التبديل | 128/وعاء |
| نقاط معزولة | 10 خطوات لكل اختبار، يمكن أن تتعلم العزلة تلقائيًا |
| سرعة الاختبار | 0.5 ثانية/1024 نقطة (مفتوح/قصير) 2 مللي ثانية ~ 40 مللي ثانية/خطوة (اختبار المكون) |
| نطاق الاختبار | المقاومة: 0.05 Ω~ 100M Ω (سلكان) ± 1% - 5% (أربعة أسلاك) ± 10m Ω.السعة 1pf ~ 40MF ± 2%-5%. الحث 1uH ~ 50H، ± 2٪ - 5٪. الثنائيات 0.1 ~ 9 فولت ± 1%-3%. صمام ثنائي زينر: 0.1 ~ 15 فولت ± 1%-3%. الترانزستور: قياس جهد تشبع VCE عند ثلاث أطراف بقيمة الترانزستور β. FET: اختبار طرفي ثلاثي لترانزستور التأثير الميداني VDS، CDs، RD (on). المقرنة الضوئية وقاطع الدائرة: أربع محطات لاختبار جهد التوصيل أو المقاومة. |
| ميزات اختيارية مميزة | المقاوم الصغير (نوع أربعة أسلاك): الحد الأدنى 50mΩ (أربعة أسلاك) ±10mΩ DRMode: يمكن قياس التسرب المتوازي للأمام أو الصمام الثنائي IC واللحام الفارغ الوظيفة الرئيسية: يتم تعليق البرنامج أثناء اختبار المفتاح، ويتم فحص جودة المفتاح من خلال التشغيل اليدوي. الختم التلقائي: اختبار تمرير أو فشل معدات الختم التلقائي وضع الشاشة: اتجاه وضع الشاشة (تمرير أو تحويلة فاشلة) الضغط المتعدد: نظام الضغط المتعدد أو المزدوج من خلال مراقبة المعدل: عندما يكون معدل الظهور وظيفة الرسومات: عرض اللوحة والإنتاج التلقائي لمشاهدات اللوحة وظيفة اللوحة المتعددة: التوسيع التلقائي للوحة واختيار اللوحة الفرعية والكشف التلقائي |
| مزود الطاقة | التيار المتردد: 220 فولت، 50/60 هرتز، 3 كيلو وات |
| البعد (مم) | 1000*750*1600 يمكن تخصيصها كما هو مطلوب |
| وزن | تقريبا: 350 كجم |
